封裝用IGBT測試儀-封裝用IGBT測試儀批發(fā)-華科智源

測試大功率元件應(yīng)用范例說明？
2011年，封裝用igbt測試儀加工，我們在深圳地鐵運營公司前海車輛段大修車間，進(jìn)行了實際的展示與操作，廠方提供了許多元件來測試，其中一部份由于損毀嚴(yán)重，在一開始的功能與元件判別過程，即被判出局，而未進(jìn)入實質(zhì)的參數(shù)量測，封裝用igbt測試儀廠家，也有全新的igbt，量測結(jié)果完全合乎出廠規(guī)格.對其測試數(shù)據(jù)*為滿意，解決了特大功率器件因無法測試給機(jī)車在使用帶來的工作不穩(wěn)定、器件易燒壞、易等問題。6）短路保護(hù)放電回路緊急情況下快速放電，保證緊急情況時快速使設(shè)備處于安全電位。用戶能對舊品元件作篩選，留下可用元件，確實掌握設(shè)備運轉(zhuǎn)的可靠度。
測試的igbt參數(shù)包括：ices（漏流）、bvces（耐壓）、igesf（正向門*漏流）、igesr（反向門*漏流）、vgeth（門檻電壓／閾值）、vgeon（通態(tài)門*電壓）、vcesat（飽和壓降）、icon（通態(tài)集*漏流）、vf（二*管壓降）、gfs（跨導(dǎo)）、rce（導(dǎo)通電阻）等全直流參數(shù)，封裝用igbt測試儀， 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測試精度， 大電流指標(biāo)保證2%以內(nèi)重復(fù)測試精度。6雙電流脈沖的設(shè)置：vcc,ic,電感值，間隙時間（10到50us）(脈寬自動計算)。
半導(dǎo)體元件全自動測試系統(tǒng)，可以元件在*工作狀態(tài)下的電流及電壓，并測量重要參數(shù)的數(shù)據(jù)，再與原出廠指標(biāo)比較，由此來判定元件的好壞或退化的百分比。出廠調(diào)試結(jié)束、出廠前預(yù)驗收完成后，賣方將為每個柜子量身定做包裝柜，保證包裝堅固，能適應(yīng)中國境內(nèi)公路、鐵路運輸，并兼顧設(shè)備在現(xiàn)場保存時間的要求。每個電流模塊，都具有*的供電系統(tǒng)，以便在測試時，提供內(nèi)部電路及電池組充電之用； 可選購?fù)獠扛邏耗K，執(zhí)行關(guān)閉狀態(tài)參數(shù)測試如：各項崩潰電壓與漏電流測量達(dá)2kv。
為何老化的元件必須盡早發(fā)現(xiàn)及盡早更換？
當(dāng)功率元件老化時，元件的內(nèi)阻在導(dǎo)通時必定會加大，因而使溫度升高，并使其效能降低。長期使用后若溫升過高時，會使元件在關(guān)閉時的漏電流急遽升高。(因漏電流是以溫度的二次方的曲線增加)，進(jìn)而使半導(dǎo)體的接口產(chǎn)生大量崩潰，而將此元件完全燒毀。當(dāng)元件損毀時，會連帶將其驅(qū)動電路上的元件或與其并聯(lián)使用的功率元件一并損傷，所以，必須即早發(fā)現(xiàn)更換。從檢測部分傳輸?shù)臄?shù)據(jù)經(jīng)上位機(jī)處理后可自動列表顯示相應(yīng)測試數(shù)據(jù)。
封裝用igbt測試儀-封裝用igbt測試儀批發(fā)-華科智源由深圳市華科智源科技有限公司提供。深圳市華科智源科技有限公司為客戶提供“igbt測試儀,功率器件測試儀,首件檢測儀”等業(yè)務(wù)，公司擁有“華科智源,hustec,”等品牌，專注于電子測量儀器等行業(yè)。，在深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道智匯*中心b座606的名聲不錯。歡迎來電垂詢，聯(lián)系人：陳少龍。半導(dǎo)體元器件檢測中心——應(yīng)用本公司測試系統(tǒng)可擴(kuò)大檢測中心的檢測范圍、提高檢測效率，提升檢測水平，增加經(jīng)濟(jì)效益。