模塊測(cè)試座

產(chǎn)品特點(diǎn)：
open top 測(cè)試座主要用于各種半導(dǎo)體芯片的的自動(dòng)燒錄等。
可根據(jù)客戶(hù)的需求，如頻率，電流，阻抗等，提供合適的材料及測(cè)試結(jié)構(gòu)。
測(cè)試座的結(jié)構(gòu)可以是open top式的，也可以是ate機(jī)臺(tái)式。
可根據(jù)客戶(hù)需求定制各種socket尺寸。
產(chǎn)品規(guī)格：
測(cè)試座材料：　pei/pps/peek/torlon
座頭材料：鋁合金6061/pei
探針類(lèi)型： 彈簧探針pogo pin
工作溫度：-40 ~ 140度
探針機(jī)械壽命： 100k次
探針彈力：20g ~ 30g
open-top socket尺寸：
序號(hào)
a
b
類(lèi)型
1
26
26
open-top
2
28
30
open-top
3
30
30
open-top
4
44
42
open-top
名稱(chēng)
引腳數(shù)
間距
尺寸
qfn48
48
0.35
5x5
qfn12
12
0.4
4x2.5
qfn20
20
3x3
dfn8
8
0.5
2x2
bga8
8
1.56x2.16
qfn8
8
2x2
qfn8
8
2x3
qfn16
16
3x3
bga100
100
7x7
bga144
144
0.65
8x8
qfn20
20
0.65
5x5
qfn8
8
0.8
3x4
qfn8
8
0.8
4x4
dfn8
8
1.27
6x5
qfn8
8
1.27
6x5
qfn8
8
1.27
8x6